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Delta-L损耗测试

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        随着高速互联链路信号传输速率的不断提高,作为器件和信号传输的载体,印制电路板(PCB)的信号完整性对通信系统的电气性能有着至关重要的影响。尤其是10G和25G+产品的大规模商用,对PCB传输线插入损耗(Insertion Loss)指标的监控是高速PCB研发和量产过程中管控的重要手段,不同高速产品,客户对信号损耗会有不同的要求,以服务器产品为例,Intel基于不同的服务器平台,对PCB带状线和微带线的损耗有着不同的损耗控制要求。

        Delta L法是Intel提出,目前已大量应用于服务器产品量产测试的方法,是SET2DIL方法的替代。Delta L法设计两条不同长度的传输线(如图6所示),传输线通过过孔(Via)、焊盘(Pad)等连接至测试探针或SMA,采用VNA测试长短线的插损值,其中,结构A的插损值ILA = ILX1 + ILVias,结构B的插损值ILB = ILX2 + ILVias,在获取长短线的插损后,先进行拟合运算,消除多重反射的影响,再直接做差值操作,从而获得单位长度传输线的插损值:IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。为弱化测试系统的的不匹配效应及多重反射对插损结果的影响,Delta L法对长度线的长度有严格要求,一般地,长短线差异需大于7.5 cm,以使多重反射的影响最小化。

        金沙娱场城1991提供Delta-L3.0,Delta-L4.0先进intel测试算法以及测试夹具精确的测试高达40GHz的插入损耗(IL)值,提供Pass/Fail判断,通过软件连接矢量网络分析仪(VNA),数据批量测试能力强,支持SMA接头以及专用探头硬件连接方式。

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