金沙娱场城1991官网-2022世界杯娱乐新干线

产品中心
您的位置: 主页 > 产品中心 > Hanwa产品 >

Hanwa HCE-5000

• 独立的测试系统,便携式空间占用小,性价比高。
• 搭配嵌入式操作屏幕,无需外置PC或Curve tracer可独立完成HBM,MM和漏电测试
• 适应于功率半导体器件及少管脚IC

特点与优势

  • 特点

     

     

    • 易于使用的触摸屏界面

     

      设置可以在没有PC的情况下进行调整

     

     

    • 符合多种标准

     

      满足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA对HBM/MM的要求

     

     

    • 泄漏与曲线追踪

     

      测试前后

        方法1:变化百分比

        方法2:绝对值

     

     

     

    • HBM快速/慢速单元(可选)

     

      HBM波形上升时间变化的两种单位。

      快速上升时间=2-3ns,慢速上升时间=8-10ns(标准=5-7ns)

     

  •  

     

                                                                        

     

     

     

  •  

     

XML 地图